Ob Verschmutzung, Materialversagen oder Herstellungsfehler – wir helfen weiter.
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Schaden

Schadensanalytik

Wir gehen den Ursachen auf den Grund

Wenn es trotz sorgfältiger Produktion zum Schadensfall oder zur Reklamation kommt, hilft Ihnen unsere Abteilung Schadensanalytik gerne weiter.

Schadensanalytik 

  • Dokumentation und chemische Analyse der Verunreinigung

Materialversagen und Herstellungsfehler

  • Materialcharakterisierung (siehe Produktanalyse)
  • Chemische Charakterisierung von Einschlüssen, Fehlstellen, Verunreinigungen, …
  • Grenzflächenanalyse bei Haftungs- oder Benetzungsproblemen, Lackierfehlern und Beschichtungsproblemen
  • Überprüfung von Materialeigenschaften und Bauteilspezifikationen, …
  • Simulation kritischer Prozessparameter

Die Interpretation von Messergebnissen und die Korrelation mit dem Herstellungsprozess sind ausgesprochene Stärken der Schadensanalytik des Analytik Service Obernburg. Sie erhalten nicht nur Daten, sondern zusätzlich eine sachkundige Interpretation. Testen Sie uns!

Geräteausstattung

Für die Schadensanalyse stehen beim Analytik Service Obernburg verschiedene mikroskopische und spektroskopische Verfahren zur Verfügung:

  • Das Stereolichtmikroskop ist für eine Übersichtsdokumentation und für die Probenpräparation unerlässlich. Häufig wird nach einem ersten Überblick am Stereolichtmikroskop die weitere Vorgehensweise bei der Analyse festgelegt.
  • Unter dem Lichtmikroskop lassen sich Strukturen mit einer Größe von wenigen Mikrometern auflösen. So lassen sich an einem Querschnitt z. B. Fließlinien im Polymer untersuchen, die Füllstoffverteilung beurteilen, Einschlüsse und Fremdmaterial visualisieren usw. Wichtig für eine effektive Schadensanalyse ist eine geeignete Probenpräparation (Einbettung, Mikrotomschnitt, Querschliff, Kontrastierung, …) sowie verschiedene Abbildungsbedingungen wie Hellfeld, Dunkelfeld, Fluoreszenz, Phasenkontrast, Auflicht und Durchlicht.
  • Mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM-EDX) lassen sich Bauteile mit deutlich höherer Auflösung und Tiefenschärfe abbilden. Neben dem Topografiekontrast erhält man im Materialkontrast Hinweise zur Materialhomogenität. Gibt es Auffälligkeiten, so können diese mit der angeschlossenen Röntgenanalyse (EDX) bei einer Auflösung von wenigen Mikrometern bzgl. der Elementzusammensetzung untersucht werden.
  • Die extrem oberflächenempfindliche Spektroskopie ESCA/XPS erlaubt die Analyse mit einer Eindringtiefe von wenigen Nanometern. Diese Oberflächenempfindlichkeit ist häufig notwendig, wenn es um Benetzungsprobleme oder Haftungsprobleme geht. Als Ergebnis erhält man die Elementzusammensetzung der Oberfläche über eine größere Fläche. Über Tiefenprofile ist es möglich, die Änderung der Elementzusammensetzung mit der Tiefe zu untersuchen.
  • Die IR-Spektroskopie erlaubt eine Identifizierung organischer Materialien. Durch die Verwendung der IR-Spektroskopie als mikroskopisches Verfahren sind auch kleinere Bereiche mit einer lateralen Größe von 20-30 µm analysierbar. Die Spektren werden durch Vergleich mit einer Datenbank identifiziert.
  • Die Raman-Spektroskopie zeigt seine Stärke ebenfalls in der Identifizierung organischer Materialien. Auch hier ist eine Kombination mit einem Mikroskop möglich, sodass auch Einschlüsse von wenigen Mikrometern Größe untersucht werden können.

Als Ergänzung stehen beim Analytik Service Obernburg zur Schadensanalyse auch die Thermoanalyse (DSC), die NMR-Spektroskopie, die Chromatografie, die Lösungsviskositätsmessung sowie zahlreiche nasschemische Verfahren zur Verfügung.

Rainer Ziel
Schadensanalytik, Mikroskopie und Oberflächenanalytik
+49 6022 81-2645
r.ziel@aso-skz.de
ESCA-Spektrometer (XPS) zur oberflächenempfindlichen Messung der Elementzusammensetzung
Raman-Spektrometer von Senterra für Mikrospektroskopie

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